伯东 inTEST 高低温冲击测试机 ATS-545用于芯片可靠性测试
上海伯东 inTEST 高低温冲击测试机ATS-545在芯片可靠性测试上的应用
功能测试, 是测试芯片的参数、指针、功能, 用人话说就是看你十月怀胎生下来的宝贝是骡子是马拉出来遛遛. 性能测试, 由于芯片在生产制造过程中, 有无数可能的引入缺陷的步骤, 即使是同一批晶圆和封装成品, 芯片也各有好坏, 所以需要进行筛选, 本文主要介绍上海伯东inTEST ATS-545在芯片可靠性测试上的应用.
上海伯东 inTEST 高低温冲击测试机ATS-545在芯片可靠性测试上的应用的原因:
类似于鸡蛋里挑石头, 把“石头”芯片丢掉. 可靠性测试, 芯片通过了功能与性能测试, 得到了好的芯片, 但是芯片会不会被冬天里最讨厌的静电弄坏, 在雷雨天、三伏天、风雪天能否正常工作, 以及芯片能用一个月、一年还是十年等等, 这些都要通过可靠性测试进行评估. 因此需要在不同温度环境下对模拟芯片进行性能测试, 以确保能在综合复杂的环境中正常使用, 客户最终选择了ATS-545高低温冲击机进行测试.
芯片可靠性测试方法:
具体做法如下:
1.将芯片放置于已做好的工装中；
2.将sensor一端连接热流罩上对应接口, 一端与芯片表面接触；
3.将高低温冲击测试机ATS-545热流罩转到工装平台并下压固定；
4.启动高低温冲击测试机ATS-545高低温冲击机加热至需要测试的温度点；
5.启动芯片测试设备对芯片在-45度及84度下进行性能测试并记录数据；
高低温冲击测试机ATS-545高低温冲击机在芯片可靠性测试的客户案例:
成都某微电子, 通过伯东购买高低温冲击测试机ATS-545高低温冲击机
伯东高低温冲击测试机ATS-545产品优势:
1.温度范围 -75°C 至 +225°C
2. ESD 防静电保护设计
3.不需要液态氮气 LN2 或液态二氧化碳 LCO2 冷却.
4.inTEST 超高速高低温测试机适用于电子元件, 集成电路 IC, PCB 电路板的高低温测试.
inTEST ThermoStream 高低温冲击测试机ATS-545 技术参数:
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型号
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温度范围 °C
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* 变温速率
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输出气流量
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温度
精度
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温度显示
分辨率
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温度
传感器
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ATS-545
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-75 至 + 225(50 HZ)
-80 至 + 225(60 HZ)
不需要LN2或LCO2冷却
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-55至 +125°C
约 10 S 或更少
+125至 -55°C
约 10 S 或更少
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4 至 18 scfm
1.9至 8.5 l/s
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±1℃
通过美国NIST 校准
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±0.1℃
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T或K型
热电偶
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* 一般测试环境下; 变温速率可调节
美国 inTEST Thermal Solutions 超过 50 年的热测系统研发专家, 热销产品 Temptronic ThermoStream 超高速高低温循环测试机, ThermoSpot 台式高低温测试机, Thermochuck 以及 Chillers 制冷机. inTEST 已收购 Thermonics 和 Temptronic.
inTEST 高低温测试机广泛应用于安捷伦 Agilent, 台积电 TSMC, IBM 等半导体, PCB 电路板, 光通讯和电子行业.
上海伯东是德国 Pfeiffer 真空设备, 美国 KRI 考夫曼离子源, 美国 inTEST 高低温冲击测试机, 美国 Ambrell 感应加热设备和日本 NS 离子蚀刻机等进口知名品牌的指定代理商.
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