上海伯东inTest ATS-750-M应用于光通讯芯片测试系统应用
在光纤通信方面，目前VCSEL作为新一代光存储和光通信应用的核心器件，可应用在光并行处理、光识别、光互联系统、光存储等领域。
国内某知名VCSEL供应商，主要研发生产VCSEL芯片、器件及模组等产品，需要在-40°C到+80°C之间执行快速自动高低温测试。其产品功率在1.5W、3W和6W等，而部分功率达到30W、100W及200W左右，因产品自身功率较大且存在发热情况，经上海伯东推荐，客户最终选用ATS-750-M，该设备低温能力可达-90℃，高温可实现300℃。
随着相关研究的快速发展, VCSEL向高速率、低功耗和高温度稳定性三个方向发展。目前已经可以实现在室温下高速稳定工作, 其阈值电流大幅降低. 虽然VCSEL激光器主要工作于常温, 但在低温环境中, 低温可降低器件发热造成的损伤, 提高器件性能.
客户采用 ThermoStream ATS-750-M在 DUT Mode 模式进行测试：
1、通过管路将高低温测试机 ATS-750-M 与专用测试治具相连
2、操作员设置需要测试的温度范围，例如-40℃至80℃
3、启动 ThermoStream ATS-750-M ，利用空压机将干燥洁净的空气通入制冷机进行低温处理，然后空气经由外部管路到达加热头进行升温
4、ATS-750-M 显示屏可实时监测当前循环冲击气流温度，而且自带过热温度保护系统，出厂设置温度 +230°C，操作员可根据实际需要设置高低温限制点，当温度达到设置温度时，测试机将自动停机。
ATS系列其余应用:
伯东 inTEST 高低温冲击测试机 ATS-545用于芯片可靠性测试 (hakuto-china.cn)
inTEST 710E 用于 FPGA 芯片高低温循环测试 (hakuto-china.cn)
上海伯东是德国 Pfeiffer 真空设备, 美国 KRI 考夫曼离子源, 美国 inTEST 高低温冲击测试机, 美国 Ambrell 感应加热设备和日本 NS 离子蚀刻机等进口知名品牌的指定代理商 .我们真诚期待与您的合作!
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