上海伯东 inTest ATS-710E 用于车载芯片高低温循环测试
随着汽车自动化、智能化的快速发展，车载芯片及模组成为当前开发的重点，由于车规产品基本覆盖汽车的全生命周期，因此必须符合汽车功能安全标准，而高低温测试则是其相关零部件检测的必要条件。
上海伯东通过与某客户沟通，其车载芯片需进行温度循环测试，其各温度要求如 -40℃、0℃、25℃、65℃、110℃、150℃，通过进入 ATS-710E 的温度循环设置界面，快速设定相应温度点、变温速率及持续时间，即可依次进行温度循环试验，与常规温箱相比，极大地提高温度测试效率。
ThermoStream 全系列产品均可提供 Air Mode 和 DUT Mode 两种测试方式。在实际测试中，如果是单颗待测器件，则将热电偶探头放置于器件周边，越靠近器件越好。此时，设备输出的气体温度将使此热电偶处的温度达到设定值。
ATS-710E-M 技术参数:
| 温度范围 |
-75°C 至 + 225°C (50 HZ) |
| 变温速率 |
-55至 +125°C 约 10 S 或更少
+125至 -55°C 约 10 S 或更少
|
| 输出气流量 |
4 至 18 scfm |
| 温度精度 |
±1℃ 通过美国NIST 校准 |
| 温度显示分辨率 |
±0.1℃ |
| 温度传感器 |
T或K型热电偶 |
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上海伯东是美国 inTEST 高低温冲击测试机, 德国 Pfeiffer 真空设备, 美国 KRI 考夫曼离子源, 美国Gel-pak 芯片包装盒, 日本 NS 离子蚀刻机, 比利时原装进口 Europlasma 等离子表面处理机 和美国 Ambrell 感应加热设备等进口知名品牌的指定代理商 .我们真诚期待与您的合作!
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