inTEST 热流仪芯片高低温冲击测试应用发布日期:2023-12-29

上海伯东 ATS-750E用于车载功率芯片高低温测试应用


  随着新能源汽车的快速发展,汽车功率模组成为当前开发的重点产品,由于车载电子产品基本覆盖汽车的全生命周期,因此必须符合汽车功能安全标准,而高低温测试则是其用于量产车上安全相关零部件的必要条件。

 

  深圳某集成电路封装测试工厂,专业从事集成电路芯片的封装、测试等后工序加工及后工序技术研发等业务。

 

  通过与用户沟通,其部分功率模块产品尺寸较大且具有发热情况,对常规机型提出了更高要求。经上海伯东推荐,最终选用ATS-750E-M,该机型制冷能力更强,低温可达-85℃,高温达到300℃。inTEST产品的多元性为各项严格的测试要求提供强有力的支持,为保证车载产品的高安全性、高可靠性和高稳定性,提供稳定和高效的解决方案。

 

 

      ThermoStream 全系列产品均可提供 Air Mode  和 DUT Mode 两种测试 方式。在实际测试中,如果是单颗待测器件,则将热电偶探头放置于器件周边,越靠近器件越好。此时,设备输出的气体温度将使此热电偶处的温度达 到设定值。

   

型号

  ATS-750E-M

温度范围

-85°C + 300°C (50 HZ)

变温速率

-55 +125°C 10 S 或更少

+125 -55°C 10 S 或更少

输出气流量

4 18 scfm

温度精度

±1℃ 通过美国NIST 校准

温度显示分辨率

±0.1℃

温度传感器

TK型热电偶

 

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上海伯东是美国Gel-pak 芯片包装盒, 日本 NS 离子蚀刻机, 德国 Pfeiffer  真空设备, 美国  KRI 考夫曼离子源, 美国 inTEST 高低温冲击测试机, 比利时原装进口 Europlasma 等离子表面处理机 和美国 Ambrell 感应加热设备等进口知名品牌的指定代理商 .我们真诚期待与您的合作!

 

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