硬X射线光电子能谱仪HAXPES 爱发科 ULVAC

硬X射线光电子能谱仪HAXPES | 爱发科 ULVAC

上海伯东代理爱发科 ULVAC-PHI是全球领先的超高真空表面分析仪器供应商。专注于研发和生产表面分析仪器，包括光电子能谱仪（XPS）、俄歇电子能谱仪（AES）、飞行时间二次离子质谱仪（Tof-SIMS）和动态二次离子质谱仪（D-SIMS）。通过提供独特的技术解决方案，帮助客户解决各种具有挑战性的问题，从而加速新产品和新技术的发展。产品应用领域包括纳米技术、太阳能技术、微电子技术、存储介质、催化、生物材料、药品以及金属、矿物、聚合物、复合材料和涂料等基础材料。

硬X射线光电子能谱（HAXPES）是一种先进的表面分析技术，主要用于研究固体样品的表面电子结构和化学态。HAXPES利用高能X射线（例如Cr Kα射线，能量为5414.7 eV）激发样品表面的电子。通过测量这些电子的能量分布，能够获得关于样品表面的化学成分和电子结构的详细信息。与传统的XPS（软X射线光电子能谱）相比，HAXPES具有更深的探测深度，通常可达约30 nm，适用于多层薄膜、半导体光电器件等样品的无损深度分析。

PHI GENESIS 500 for XPS 硬X射线光电子能谱仪| ULVAC

上海伯东代理 ULVAC 硬X射线光电子能谱（HAXPES）是一种先进的表面分析技术，主要用于研究固体样品的表面电子结构和化学态。HAXPES利用高能X射线（例如Cr Kα射线，能量为5414.7 eV）激发样品表面的电子。通过测量这些电子的能量分布，能够获得关于样品表面的化学成分和电子结构的详细信息。
产品详细资料