PHI nanoTOF 3+ 飞行时间二次离子质谱仪TOF-SIMS | ULVAC

PHI nanoTOF 3+

产品描述

PHI nanoTOF3+是一款先进的TOF-SIMS仪器，配备TRIFT质量分析器，具备高空间分辨率（高达50nm）和高质量分辨率，支持MS/MS功能，适合有机大分子结构分析。

  • 产品优势

  • PHI nanoTOF 3+ 飞行时间二次离子质谱仪TOF-SIMS | ULVAC 产品优势：

    1. 180度的广接收角，可收集超过100 um大景深样品成像。
    2. 立体收集焦距大和深景深。
    3. 同时实现高空间及高质量分辨模式
        (High spatial resolution and mass resolution)。
    4. 多种离子枪选配，实现高精度深度剖析和3D成像。
    5. FIB-TOF三维深度分布成像。
    6. TOF-SIMS(Time of Flight Secondary lon Mass Spectrometry)是利用脉冲离子束轰击样品表面产生二次离子，经飞行时间分析器分析二次离子到达探测器的时间，从而获得样品表面成份信息的分析技术。其表面灵感度高,提供表面几个原子层的分子、元素及其同位素的组成信息，运用于所有元素和同位素, 包括氢元素。
    7. 全球首创唯一在TOF-SIMS上架设的MSMS质谱串联技术。

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