飞行时间二次离子质谱仪TOF-SIMS 爱发科 ULVAC

飞行时间二次离子质谱仪TOF-SIMS | 爱发科 ULVAC

上海伯东代理爱发科 ULVAC-PHI是全球领先的超高真空表面分析仪器供应商。专注于研发和生产表面分析仪器，包括光电子能谱仪（XPS）、俄歇电子能谱仪（AES）、飞行时间二次离子质谱仪（Tof-SIMS）和动态二次离子质谱仪（D-SIMS）。通过提供独特的技术解决方案，帮助客户解决各种具有挑战性的问题，从而加速新产品和新技术的发展。产品应用领域包括纳米技术、太阳能技术、微电子技术、存储介质、催化、生物材料、药品以及金属、矿物、聚合物、复合材料和涂料等基础材料。

TOF-SIMS(Time of Flight Secondary lon Mass Spectrometry)是利用脉冲离子束轰击样品表面产生二次离子，经飞行时间分析器分析二次离子到达探测器的时间，从而获得样品表面成份信息的分析技术。其表面灵感度高,提供表面几个原子层的分子、元素及其同位素的组成信息，运用于所有元素和同位素, 包括氢元素。

PHI nanoTOF 3+ 飞行时间二次离子质谱仪TOF-SIMS | ULVAC

仪器种类：
飞行时间

原始束流或速能量：
Bi初级离子源≥ 30 nA

质量分析范围：
1～12000 amu以上

质量分辨率：
m/z > 200的m/∆m ≥ 16,000

产品详细资料