ULVAC-PHI 表面分析仪器 |上海伯东

爱发科 ULVAC

上海伯东代理爱发科 ULVAC-PHI是全球领先的超高真空表面分析仪器供应商。专注于研发和生产表面分析仪器，包括光电子能谱仪（XPS）、俄歇电子能谱仪（AES）、飞行时间二次离子质谱仪（Tof-SIMS）和动态二次离子质谱仪（D-SIMS）。通过提供独特的技术解决方案，帮助客户解决各种具有挑战性的问题，从而加速新产品和新技术的发展。产品应用领域包括纳米技术、太阳能技术、微电子技术、存储介质、催化、生物材料、药品以及金属、矿物、聚合物、复合材料和涂料等基础材料。

ADEPT-1010 动态二次离子质谱仪 | ULVAC

上海伯东代理 PHI公司的 ADEPT-1010™ 型四级杆动态SIMS采用独特的二次离子提取系统，该系统能够提高二次离子传输性能。高的离子传输性能提高了深度分析的检测限，使得ADEPT能够出色完成对离子注入结构的深度和剂量检测任务
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PHI 710俄歇电子能谱仪 | ULVAC

上海伯东代理 PHI公司的PHI710扫描俄歇纳米探针是一台设计独特的高性能的俄歇电子能谱（AES）仪器。该设备能分析纳米级特征区域,超薄薄膜和多层结构表界面的元素态和化学态信息。作为高空间分辨率,高灵敏度和高能量分辨率的俄歇电子能谱仪, PHI 710可以为用户提供纳米尺度方面的各种分析需求。
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PHI nanoTOF 3+ 飞行时间二次离子质谱仪TOF-SIMS | ULVAC

仪器种类：
飞行时间

原始束流或速能量：
Bi初级离子源≥ 30 nA

质量分析范围：
1～12000 amu以上

质量分辨率：
m/z > 200的m/∆m ≥ 16,000

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PHI GENESIS 500 for XPS 硬X射线光电子能谱仪| ULVAC

上海伯东代理 ULVAC 硬X射线光电子能谱（HAXPES）是一种先进的表面分析技术，主要用于研究固体样品的表面电子结构和化学态。HAXPES利用高能X射线（例如Cr Kα射线，能量为5414.7 eV）激发样品表面的电子。通过测量这些电子的能量分布，能够获得关于样品表面的化学成分和电子结构的详细信息。
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PHI Genesis 500 X射线光电子能谱仪 | ULVAC

上海伯东代理 PHI Genesis 500是最新一代配置了全自动多功能扫描聚焦X 射线光电子能谱，易操作式多功能选配附件，能够实现全自动样品传送停放，同时还具备高性能大面积和微区XPS 分析，快速精准深度剖析，为电池、半导体、有机器件以及其他各领域提供全面解决方案.
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