inTEST 热流仪芯片高低温冲击测试应用发布日期:2024-10-14

上海伯东inTEST ATS-545热流仪用于环境光亮度传感器高低温测试


       环境光传感器作为一种能够感知周围光照强度并实时输出电信号的传感器,在消费类电子、汽车电子以及工业控制等诸多领域都有广泛应用。例如,在智能手机和平板电脑的顶部通常会配置环境光传感器,它通过感应光照强度来实现屏幕亮度的实时控制,进而达到降低设备功耗、延长设备使用寿命以及保护眼睛的目的。

 

       相较于传统消费电子行业的使用需求,车载环境光传感器对使用环境和测试要求更为严苛,需要依据更高标准进行测试,特别是在高低温环境以及循环冷热冲击的测试方面。为了有效模拟汽车的实际使用环境,当前车载环境光传感器的高低温测试温度范围设定为 - 50 ~ 175℃,并且需要历经上万次的冷热冲击循环测试。

 

 

       上海伯东的某客户,作为全球知名的环境光传感器供应商,采购了上海伯东 inTEST ATS - 545 热流仪用于环境光传感器的测试,测试温度范围为 - 50 ~ 175℃。在实验室环境下,客户采用从 - 50℃到 175℃,再从 175℃到 - 50℃作为一个循环的方式展开测试,单个芯片需进行 500 次循环测试。

 

上海伯东 inTEST ATS - 545 的相关参数如下:

1. 温度范围:在 50HZ 的条件下,温度范围为 - 75℃至 + 225℃,无需 LN2 或 LCO2 冷却。

2. 变温速率:在 - 55℃至 + 125℃之间,变温速率约为 10S 或更少;在 + 125℃至 - 55℃之间,变温速率同样约为 10S 或更少。

3. 输出气流量:范围为 4 至 18scfm(1.9 至 8.5l/s)。

4. 温度精度:通过美国 NIST 校准,精度为 ±1℃。

5. 温度显示分辨率:±0.1℃。

6. 温度传感器:采用 T 或 K 型热电偶。

7. 操作方式:通过按键旋钮进行操作。

 

美国 inTEST Thermal Solutions 超过 50 年的热测系统研发专家, 热销产品 Temptronic ThermoStream 超高速高低温循环测试机, ThermoSpot 台式高低温测试机, Thermochuck 以及 Chillers 制冷机. inTEST 已收购 Thermonics 和 Temptronic.

inTEST 高低温测试机广泛应用于安捷伦 Agilent, 台积电 TSMC, IBM 等半导体, PCB 电路板, 光通讯和电子行业.

 

ATS系列其余应用:

伯东 inTEST 高低温冲击测试机 ATS-545用于芯片可靠性测试 (hakuto-china.cn)

inTEST 710E 用于 FPGA 芯片高低温循环测试 (hakuto-china.cn)

 

 

上海伯东是美国 inTEST 高低温冲击测试机, 德国 普发 Pfeiffer  真空设备, 美国  KRI 考夫曼离子源, 日本  NS 离子蚀刻机, 美国  HVA 真空阀门, 美国  Gel-pak 芯片包装盒,比利时原装进 口 Europlasma 等离子表面处理机 , 日本  Atonarp过程质谱仪  和  美国 Ambrell 感应加热设备 等进口知名品牌的指定代理商 .我们真诚期待与您的合作!

 

若您需要进一步的了解详细信息或讨论, 请参考以下联络方式:

 

上海伯东: 罗小姐                                    台湾伯东: 王小姐
T: +86-21-5046-1322                            T: +886-3-567-9508 ext 161
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