inTEST 热流仪芯片高低温冲击测试应用发布日期:2025-04-15

上海伯东 inTEST热流仪助力汽车水泵电机应用下的MCU测试


随着汽车电子化程度不断提高,水泵电机控制系统对MCU的可靠性要求日益严格。根据AEC-Q100 Grade 1认证标准,车规级MCU需满足:

工作温度范围:-40℃至+125℃

耐受温度冲击:≥1000次循环

电气性能稳定性:电压波动±15%时保持正常运行

 

MCU芯片温度测试

*图片来源: 汽车MCU芯片知识点梳理 - 知乎

 

inTEST ATS系列热流仪技术优势

ATS-545

1. 精准温控性能

参数指标

ATS-710E

ATS-545

温度范围

-75℃至+225℃

-55℃至+225℃

变温速率

-55℃→+125℃/10s

-55℃→+125℃/10s

温度均匀性

±0.5℃

±0.8℃

温度稳定性

±0.3℃/24h

±0.5℃/24h

 

2. 智能化测试系统

通讯接口:Ethernet/IEEE-488/RS232

控制软件:支持LabVIEW、Python等开发环境

数据采样率:10Hz(全量程)

 

MCU测试解决方案

1. 典型测试项目

-高温老化测试:125℃持续1000小时

-温度循环测试:-40℃↔125℃(500次循环)

-温度冲击测试:-55℃→125℃(<1分钟转换)

 

2. 测试效率对比

测试方法

传统方案

inTEST方案

单次循环时间

45分钟

8分钟

日均测试次数

20次

120次

能耗水平

8kW·h/次

3.5kW·h/次

 

实际应用案例

某汽车电子供应商采用ATS-710E进行:

1. 测试对象:32位汽车水泵MCU(AEC-Q100认证)

2. 测试项目:

高温高湿存储(85℃/85%RH)

温度循环(-40℃~125℃)

 

-测试结果:

故障率降低62%

测试周期缩短70%

 

产品选型建议

选型因素

ATS-710E推荐场景

ATS-545推荐场景

测试强度

高强度可靠性验证

常规质量检测

测试精度

芯片级验证

模组级测试

预算范围

中等

 

上海伯东是美国 inTEST 高低温冲击测试机, 德国 普发 Pfeiffer  真空设备, 美国  KRI 考夫曼离子源, 日本  NS 离子蚀刻机, 美国  HVA 真空阀门, 美国  Gel-pak 芯片包装盒,比利时原装进 口 Europlasma 等离子表面处理机 , 日本  Atonarp过程质谱仪  和  美国 Ambrell 感应加热设备 等进口知名品牌的指定代理商 .我们真诚期待与您的合作!

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