Pfeiffer 氦质谱检漏仪脉冲激光沉积系统 PLD 检漏
脉冲激光沉积系统 PLD
脉冲激光沉积系统 Pulsed laser deposition 是制备高通量多晶薄膜, 外延薄膜和多层异质结构和超晶格结构的物理气相沉积设备, 通常需要保证本底真空度达到 10-8mbar, 同时高真空环境对系统配置的 RHEED 及温控系统等关键设备的寿命也至关重要.
脉冲激光沉积系统 PLD 需要检漏原因
PLD 系统需要高真空环境, 腔室是否有泄露, 是否有内部材料放气等因素对实现高真空及超高真空很关键. 因此需要对整个系统进行泄漏检测. 氦质谱检漏仪利用氦气作为示踪气体可精确定位, 定量漏点. 因此广泛应用于 PLD 设备检漏.
脉冲激光沉积系统 PLD 检漏客户案例: 上海伯东某客户 PLD 设备用来制备各种材料, 为了保证产品质量, 采购氦质谱检漏仪 ASM 340 搭配使用.
生长多层膜(TiN/ALN)结构, 各层膜厚度可调 |
高通量制备具有不同材料成分的100种材料 |
PLD 制备的 Ag 的纳米多孔材料 |
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脉冲激光沉积系统 PLD 检漏方法
采用真空模式检漏, 通过波纹管连接需要检漏的腔体, 设定好需要的漏率值
在怀疑有漏的地方喷氦气(一般需要检漏的部位是焊缝或连接处),如果有漏,检漏仪会出现声光报警同时在屏幕上显示当前漏率值.
上海伯东推荐 Pfeiffer 氦质谱检漏仪 ASM 340 三种类型可选
型号 |
ASM 340 WET |
ASM 340 D |
ASM 340 I |
对氦气的最小检测漏率, 真空模式 |
5E-13 Pa m3/s |
5E-13 Pa m3/s |
5E-13 Pa m3/s |
检测模式 |
真空模式和吸枪模式 |
真空模式和吸枪模式 |
真空模式和吸枪模式 |
检测气体 |
4He, 3He, H2 |
4He, 3He, H2 |
4He, 3He, H2 |
对氦气的抽气速度 l/s |
2.5 |
2.5 |
2.5 |
进气口最大压力 hPa |
25 |
25 |
5 |
前级泵抽速 m3/h |
油泵 15 |
隔膜泵 3.4 |
不含前级泵 |
重量 kg |
56 |
45 |
32 |
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