上海伯东 inTest ATS-545用于车载光通器件的高低温循环测试
随着智能汽车和自动驾驶技术的迅猛发展，车载电子系统和应用数量快速增加，导致车载数据量和通信需求不断增长。为满足日益增长的数据传输和通信需求，车内网络总带宽预计将达到200Gbps。
为了应对这一挑战，车载计算和通信架构正朝着准/中央计算平台加区域接入的方向发展，从面向功能的域控制器(DCU)架构向面向位置区域的控制器ZCU+准/中央计算架构转变。
在这一发展趋势中，基于铜缆的汽车总线应用受到了限制。铜缆的重量、成本以及Serdes带宽速率等方面存在瓶颈，并且容易受到电磁兼容性的影响。
上海伯东某客户是国内知名的车载光通器件的供应商，服务于国内众多汽车主机厂。为了满足车载测试AEC-Q100标准中T0级的测试，该客户需要对车载光通器件做高低温快速循环测试，测试温度取件-40~150℃, 在多方对比和调研后，选择了上海伯东代理商的美国inTEST 高低温热流仪ATS-545-M-7做车载芯片的高低温快速循环测试。
| 技术参数 |
详情 |
| 温度范围（50HZ） |
- 75 至 + 225℃（不需要 LN2 或 LCO2 冷却） |
| 变温速率（ - 55 至 + 125°C 及 + 125 至 - 55°C） |
约 10S 或更少 |
| 输出气流量 |
4 至 18scfm（1.9 至 8.5l/s） |
| 温度精度 |
±1℃（通过美国 NIST 校准） |
| 温度显示分辨率 |
±0.1℃ |
| 温度传感器 |
T 或 K 型热电偶 |
| 操作方式 |
按键旋钮操作 |
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inTest ATS - 545 - M - 7 高低温热流仪凭借其出色的技术参数，如宽温度范围、快速变温速率、精确的温度控制等，满足了客户对车载光通器件高低温快速循环测试的需求，为车载光通器件的质量检测提供了可靠的解决方案，有助于提升车载光通器件在智能汽车应用中的可靠性和稳定性。
ATS系列其余应用:
伯东 inTEST 高低温冲击测试机 ATS-545用于芯片可靠性测试 (hakuto-china.cn)
inTEST 710E 用于 FPGA 芯片高低温循环测试 (hakuto-china.cn)
上海伯东是美国 inTEST 高低温冲击测试机, 德国 普发 Pfeiffer 真空设备, 美国 KRI 考夫曼离子源, 日本 NS 离子蚀刻机, 美国 HVA 真空阀门, 美国 Gel-pak 芯片包装盒,比利时原装进 口 Europlasma 等离子表面处理机 , 日本 Atonarp过程质谱仪 和 美国 Ambrell 感应加热设备 等进口知名品牌的指定代理商 .我们真诚期待与您的合作!
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