上海伯东 inTEST ATS-545-M用于消费电子芯片高低温测试
一、高低温测试的重要性
随着消费电子产品功能的日益复杂和应用场景的不断扩展，其工作环境也变得更加多样化。为确保电子电器产品在各种极端温度条件下的可靠性和稳定性，高低温测试已成为产品开发过程中不可或缺的关键环节。
高低温测试通过模拟产品在实际使用中可能遇到的高温和低温环境，能够有效评估产品在极端温度条件下的性能表现，为产品设计和优化提供科学依据，从而显著提高产品的市场竞争力。
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二、高低温测试方法解析
1. 恒温测试
恒温测试是在保持温度恒定的条件下对产品进行的测试方法，主要用于评估产品在特定温度环境下的性能表现。
测试特点：
a. 温度设定范围广（如高温50℃至低温-20℃等）
b. 测试条件稳定可控
c. 数据重复性好
d. 适用于长期稳定性评估
2. 温度冲击测试
温度冲击测试是通过快速交替变化的高低温环境对产品进行测试的方法，主要用于评估产品在温度剧烈变化条件下的适应性和可靠性。
测试特点：
a. 温度变化速度快
b. 模拟极端环境变化
c. 可快速暴露材料热应力问题
d. 适用于可靠性加速测试
三、ATS-545-M高精度冲击热流仪解决方案
1. 典型应用案例
上海伯东某工业级芯片制造客户，产品测试要求如下：
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测试要求
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参数指标
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温度范围
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-40℃至+125℃
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测试类型
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单温度冲击/高低温循环冲击
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参考标准
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JESD 47, ISO 16750, AEC Q100, AEC-Q101
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该客户最终选择了上海伯东提供的inTEST ATS-545-M高精度冲击热流仪的解决方案，成功实现了对单独IC和PCB的高低温测试需求。
2. ATS-545-M设备技术参数
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参数项
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技术指标
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温度范围(50Hz)
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-75℃至+225℃
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温度范围(60Hz)
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-80℃至+225℃
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制冷方式
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无需LN2或LCO2冷却
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变温速率
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-55℃至+125℃约10秒或更少
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+125℃至-55℃约10秒或更少
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温度精度
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±1℃（通过美国NIST校准）
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温度显示分辨率
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±0.1℃
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温度传感器
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T型或K型热电偶
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输出气流量
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4至18 scfm（1.9至8.5 l/s）
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3. 产品核心优势
a. 宽温域测试能力：覆盖-80℃至+225℃的宽广温度范围，满足绝大多数电子产品的测试需求
b. 高效变温性能：10秒内完成-55℃至+125℃的温度转换，大幅提升测试效率
c. 精确温控系统：±1℃的高精度控制，确保测试数据的准确性和可靠性
d. 便捷操作设计：无需液氮或液态二氧化碳冷却，降低使用成本和操作复杂度
e. 灵活适配性：可与多种测试仪器配合使用，满足不同测试场景需求
ATS-545-M高精度冲击热流仪凭借其卓越的性能指标和稳定的测试表现，已成为消费电子芯片高低温测试领域的理想选择。上海伯东作为inTEST品牌全国总代理，将持续为客户提供专业的技术支持和优质的售后服务，助力客户产品质量提升和技术创新。
上海伯东是美国 inTEST 高低温冲击测试机, 德国 普发 Pfeiffer 真空设备, 美国 KRI 考夫曼离子源, 日本 NS 离子蚀刻机, 美国 HVA 真空阀门, 美国 Gel-pak 芯片包装盒,比利时原装进 口 Europlasma 等离子表面处理机 , 日本 Atonarp过程质谱仪 和 美国 Ambrell 感应加热设备 等进口知名品牌的指定代理商 .我们真诚期待与您的合作!
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