KRI 考夫曼离子源应用案例发布日期:2026-02-12

上海伯东 RFICP 380 射频离子源用于化合物半导体器件离子束刻蚀


1. 应用介绍

行业领域:化合物半导体 / 功率电子
工艺设备:IBE 离子束刻蚀系统
加工材料:GaN、AlGaN、GaAs、SiC 等
晶圆尺寸:150mm、200mm

 

工艺背景

氮化镓高电子迁移率晶体管(GaN HEMT)、砷化镓异质结双极晶体管(GaAs HBT)等化合物半导体器件对刻蚀工艺有特殊要求:需要各向异性刻蚀以获得陡直侧壁,同时要求低损伤以保持材料电学性能。传统湿法腐蚀各向同性,无法满足精细图形要求;ICP-RIE 等等离子体刻蚀存在离子轰击损伤和聚合物残留问题。

 

工艺目标

实现化合物半导体材料的低损伤、高均匀性、高选择比刻蚀,满足射频前端、功率电子等应用对器件性能的要求。

 

2. 推荐产品

美国 KRI 射频离子源 RFICP 380

本应用采用 RFICP 380 射频离子源作为 IBE 刻蚀源,配置准直束三栅极组件,实现低能量、低损伤、高均匀性的化合物半导体刻蚀。

选型依据

工艺需求

KRI RFICP 380 解决方案

200mm 晶圆均匀刻蚀

栅极直径30cm,束流均匀性好

低损伤刻蚀

射频放电无电极污染;离子能量可低至100eV

原子级深度控制

离子能量/束流独立调节,刻蚀速率稳定可控

反应刻蚀兼容

可通入 Cl₂、BCl₃、SF₆ 等反应气体

高选择比

低能量物理溅射 + 化学辅助刻蚀

 

3. 工艺实现与技术优势

刻蚀机理

离子源产生的惰性气体或反应气体离子束轰击晶圆表面,通过物理溅射或化学辅助物理溅射去除材料。离子能量、束流密度、入射角度、气体种类均可独立调节,实现刻蚀速率、侧壁形貌、表面粗糙度的优化控制。

 

工艺能力

a. 支持物理刻蚀(Ar)和反应离子束刻蚀(Cl₂、BCl₃、SF₆、CF₄ 等)

b. 离子能量宽范围可调,低能量模式适用于浅结刻蚀、栅槽刻蚀等敏感工艺

c. 束流均匀性好,保障大尺寸晶圆刻蚀一致性

d. 可配合载台倾斜/旋转机构,实现复杂三维结构刻蚀

 

4. 关键性能参数(源自KRI官方数据表)

参数名称

技术规格

离子源型号

KRI RFICP 380

放电方式

射频感应耦合等离子体

栅极直径

30 cm Φ

最大离子束流

>1500 mA

离子能量范围

100 - 1200 eV

离子束类型

聚焦、平行、散射(可选)

工作气体

Ar, Kr, Xe, O₂, N₂, H₂ 等

气体流量范围

15 - 50 sccm

典型工作压力

< 0.5 mTorr

中和器

LFN 2000

适用晶圆尺寸

150mm、200mm

  

 

5. 应用成果与客户价值

工艺效果

a. 低损伤刻蚀:低能量模式减少晶格损伤,保留材料本征电学性能

b. 高均匀性:大尺寸晶圆范围内刻蚀深度一致性好

c. 侧壁控制:准直离子束实现陡直侧壁,满足精细图形要求

d. 表面光滑:刻蚀后表面粗糙度低,减少后续工艺缺陷

 

客户收益

a. 满足 GaN HEMT、GaAs HBT 等器件对栅槽刻蚀、台面隔离等关键工艺的要求

b. 200mm 大尺寸晶圆加工能力提升产能,降低制造成本

c. 低损伤特性提升器件良率和可靠性

d. 反应刻蚀能力拓展工艺窗口,支持多种化合物半导体材料

 

上海伯东是日本  NS 离子蚀刻机, 美国  KRI 考夫曼离子源,  德国 ph-instruments 磁悬浮转子真空计, 德国 普发 Pfeiffer  真空设备, 美国 inTEST 高低温冲击测试机, 美国  HVA 真空阀门, 美国  Gel-pak 芯片包装盒,比利时原装进 口 Europlasma 等离子表面处理机 ,  和  美国 Ambrell 感应加热设备 等进口知名品牌的指定代理商 .我们真诚期待与您的合作!

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