1. 应用介绍
行业领域:化合物半导体 / 功率电子
工艺设备:IBE 离子束刻蚀系统
加工材料:GaN、AlGaN、GaAs、SiC 等
晶圆尺寸:150mm、200mm
工艺背景:
氮化镓高电子迁移率晶体管(GaN HEMT)、砷化镓异质结双极晶体管(GaAs HBT)等化合物半导体器件对刻蚀工艺有特殊要求:需要各向异性刻蚀以获得陡直侧壁,同时要求低损伤以保持材料电学性能。传统湿法腐蚀各向同性,无法满足精细图形要求;ICP-RIE 等等离子体刻蚀存在离子轰击损伤和聚合物残留问题。
工艺目标:
实现化合物半导体材料的低损伤、高均匀性、高选择比刻蚀,满足射频前端、功率电子等应用对器件性能的要求。
2. 推荐产品
本应用采用 RFICP 380 射频离子源作为 IBE 刻蚀源,配置准直束三栅极组件,实现低能量、低损伤、高均匀性的化合物半导体刻蚀。
选型依据:
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工艺需求 |
KRI RFICP 380 解决方案 |
|---|---|
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200mm 晶圆均匀刻蚀 |
栅极直径30cm,束流均匀性好 |
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低损伤刻蚀 |
射频放电无电极污染;离子能量可低至100eV |
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原子级深度控制 |
离子能量/束流独立调节,刻蚀速率稳定可控 |
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反应刻蚀兼容 |
可通入 Cl₂、BCl₃、SF₆ 等反应气体 |
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高选择比 |
低能量物理溅射 + 化学辅助刻蚀 |
3. 工艺实现与技术优势
刻蚀机理:
离子源产生的惰性气体或反应气体离子束轰击晶圆表面,通过物理溅射或化学辅助物理溅射去除材料。离子能量、束流密度、入射角度、气体种类均可独立调节,实现刻蚀速率、侧壁形貌、表面粗糙度的优化控制。
工艺能力:
a. 支持物理刻蚀(Ar)和反应离子束刻蚀(Cl₂、BCl₃、SF₆、CF₄ 等)
b. 离子能量宽范围可调,低能量模式适用于浅结刻蚀、栅槽刻蚀等敏感工艺
c. 束流均匀性好,保障大尺寸晶圆刻蚀一致性
d. 可配合载台倾斜/旋转机构,实现复杂三维结构刻蚀
4. 关键性能参数(源自KRI官方数据表)
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参数名称 |
技术规格 |
|---|---|
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离子源型号 |
KRI RFICP 380 |
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放电方式 |
射频感应耦合等离子体 |
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栅极直径 |
30 cm Φ |
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最大离子束流 |
>1500 mA |
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离子能量范围 |
100 - 1200 eV |
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离子束类型 |
聚焦、平行、散射(可选) |
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工作气体 |
Ar, Kr, Xe, O₂, N₂, H₂ 等 |
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气体流量范围 |
15 - 50 sccm |
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典型工作压力 |
< 0.5 mTorr |
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中和器 |
LFN 2000 |
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适用晶圆尺寸 |
150mm、200mm |
5. 应用成果与客户价值
工艺效果:
a. 低损伤刻蚀:低能量模式减少晶格损伤,保留材料本征电学性能
b. 高均匀性:大尺寸晶圆范围内刻蚀深度一致性好
c. 侧壁控制:准直离子束实现陡直侧壁,满足精细图形要求
d. 表面光滑:刻蚀后表面粗糙度低,减少后续工艺缺陷
客户收益:
a. 满足 GaN HEMT、GaAs HBT 等器件对栅槽刻蚀、台面隔离等关键工艺的要求
b. 200mm 大尺寸晶圆加工能力提升产能,降低制造成本
c. 低损伤特性提升器件良率和可靠性
d. 反应刻蚀能力拓展工艺窗口,支持多种化合物半导体材料
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