NS IBE(离子束刻蚀)系统是上海伯东自主研发的高精度干法刻蚀设备,采用定向离子束轰击原理,专为光栅、波导等微纳结构加工而设计。与传统刻蚀技术相比,其在精密光电器件制造中具有显著优势:
参数 | 湿法刻蚀 | RIE反应离子刻蚀 | IBE离子束刻蚀 |
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各向异性 | 差(各向同性) | 中等(1:3-1:5) | 优异(1:10-1:20) |
侧壁陡度 | <45° | 70-80° | >80° |
均匀性(Φ150mm) | ±15% | ±8% | ±3% |
材料适应性 | 受限(需化学反应) | 部分材料产生副反应 | 全材料兼容 |
最小线宽 | 1μm | 0.2μm | 0.1μm |
深度控制精度 | ±20% | ±10% | ±5% |
子系统 | 技术指标 | 测试标准 |
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离子源 | 射频激励(13.56MHz),束流密度50-500mA/cm² | SEMI E10-0301 |
真空系统 | ≤5×10⁻⁶ Pa(分子泵+机械泵组) | ISO 21360-2019 |
刻蚀范围 | Φ50-300mm基片 | SEMI M1-0318 |
束流均匀性 | ≤±3%(Φ200mm范围内) | GB/T 4937-2018 |
角度调节 | 0-90°连续可调(精度±0.5°) | JJF 1101-2019 |
控制系统 | PLC+工控机,配方存储≥100组 | IEC 61010-1:2010 |
技术挑战:LN材料化学惰性强,传统RIE刻蚀速率比<1:3
IBE方案:
采用Ar⁺离子束,能量500eV,束流密度200mA/cm²
光刻胶掩模(无需硬掩模)
成果:
侧壁倾角82±1°
刻蚀速率120nm/min(均匀性±2.5%)
衍射效率>85%
客户:长春光机所某重点项目
工艺参数:
倾斜刻蚀(45°入射角)
终点检测控制(精度±5nm)
性能提升:
衍射效率提升25%(对比湿法工艺)
批次间均匀性≤±3%
工艺环节 | 传统方案 | IBE方案 | 改善效果 |
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掩模复杂度 | 3层掩模 | 单层硬掩模 | 成本降低 |
侧壁角度控制 | ±5° | ±1° | 光学效率提升 |
良率(Φ200mm) | 65% | 92% | 节省成本 |