随着新能源汽车的不断发展，智能座舱技术也在同步提升。CarPlay 已成为汽车内的核心功能之一，通常包含高清离线地图、无损音乐缓存、语音交互日志、行车记录视频等应用，这些都会产生大量临时数据。
如果没有稳定、可靠的车机存储方案，可能导致：
- CarPlay 导航闪退
- 音频断流、视频加载卡顿
- OTA 升级失败
这些问题会显著降低车主的使用体验，并增加对原厂的投诉。
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SD NAND 凭借其独特优势，成为 CarPlay 改装主机、原车低配座舱存储升级的理想方案：
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| 优势 | 说明 |
|---|---|
| 微型化尺寸 | 节省设备空间，适用于小型化智能硬件 |
| 宽温工作 | 适应工业、车载、户外等极端温度场景，车规级温度要求通常为 -40℃ 至 +125℃ |
| 耐久性强 | 支持长时间频繁读写，寿命更长 |
| 数据安全 | 突然断电时具备数据保护、ECC 验证及坏块管理功能，可靠性远超普通 TF 卡 |
| 标准 SD 协议 | 驱动简单，开放快，满足高速即插即用需求 |
| 实时监控 | 可查看健康状态和剩余寿命 |
| 容量灵活 | 根据配置可选不同容量，获得最优性价比 |
为确保每一颗 SD NAND 闪存的质量，需要使用专业的内存测试系统进行严格测试。行业主流方案是采用专用的 NAND 闪存测试系统，配合高低温环境模拟设备，对 SD NAND 进行高低温老化测试，以验证其在极端温度条件下的稳定性和可靠性。
车规级 SD NAND 需要在 -40℃ 至 +125℃ 的宽温范围内保持数据读写稳定，客户亟需一套能够精确控温、快速温变、并可无缝集成到现有测试系统中的温度测试解决方案。
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上海伯东提供的 inTEST ATS 系列热流仪（ATS-545 和 ATS-710E），可以为 SD NAND 闪存提供 -75℃ 至 +225℃ 的宽温度模拟环境，完全覆盖车规级（-40℃ 至 +125℃）测试要求。
ATS 系列热流仪可配合 NAND 闪存专用测试系统（如行业主流的爱德万 T5851 系列），对 SD NAND 进行高低温老化测试，从而检验其稳定性。
- 快速温变：从 -55°C 至 +125°C 的温度变化时间仅需约 10 秒，大幅提升 SD NAND 的测试效率
- 高精度控温：温度精度达 ±1°C，显示分辨率达 ±0.1°C，确保测试数据精准可靠
- 远程通讯：出厂自带 Ethernet、IEEE-488、RS232 通讯接口，可远程获取和更改热流仪的温度设定值
- 无需液氮：采用先进制冷技术，无需 LN₂ 或 LCO₂
| 项目 | ATS-545 | ATS-710E |
|---|---|---|
| 温度范围 | -75°C 至 +225°C（50Hz） -80°C 至 +225°C（60Hz） |
-75°C 至 +225°C（50Hz） -80°C 至 +225°C（60Hz） |
| 温变速率 | -55°C ↔ +125°C：约 10 秒 | -55°C ↔ +125°C：约 10 秒 |
| 系统气流量 | 4 至 18 scfm（连续） | 4 至 18 scfm（连续） |
| 温度精度 | ±1.0°C | ±1.0°C |
| 显示分辨率 | ±0.1°C | ±0.1°C |
| DUT 传感器接口 | K 型、T 型热电偶 | 内部二极管、K 型热电偶、T 型热电偶、100Ω 铂 RTD |
| 通讯接口 | IEEE-488、RS232 | Ethernet、IEEE-488、RS232、USB |
| 防结霜功能 | 干燥空气吹扫 | 干燥空气吹扫（0.5-3 scfm） |
| 节能特性 | — | 自动功率降低、纯加热模式 |
| 控制系统 | 标准控制 | 嵌入式控制，无 Windows® |
| 整机尺寸 | 宽 61.0 cm × 深 72.4 cm × 高 108 cm | 宽 61.0 cm × 深 72.4 cm × 高 108 cm |
| 整机重量 | 236 kg（未包装）/ 365 kg（包装） | 236 kg（未包装）/ 365 kg（包装） |
| 最大操作高度 | 130.3 cm（标准） | 130.3 cm（标准）/ 188.0 cm（加高选配） |
| 最小操作高度 | 69.1 cm（标准） | 69.1 cm（标准）/ 81.3 cm（加高选配） |
| 电源要求 | 200-250 VAC，50/60Hz，30A，单相 | 200-250 VAC，50/60Hz，30A，单相 |
| 压缩空气要求 | 清洁干燥空气，压力 6.2-7.6 BAR，流量 15-30 scfm | 清洁干燥空气，压力 6.2-7.6 BAR，流量 15-30 scfm |
| 噪声水平 | <65 dBA | <65 dBA |
| 过温保护 | +230°C（出厂设置） | +230°C（出厂设置） |
| 制冷剂 | 无 HCFC/CFC，无毒，不可燃 | 无 HCFC/CFC，无毒，不可燃 |
| 认证标准 | CE、ISO 9001 | CE |
| 组件 | 说明 |
|---|---|
| NAND 闪存测试系统 | 行业标准测试机（如爱德万 T5851 系列），用于高速协议 NAND 闪存评估测试 |
| 温度控制系统 | inTEST ATS-710E 或 ATS-545 热流仪，提供 -75℃ 至 +225℃ 温度环境 |
| 测试对象 | 车载用 SD NAND 闪存芯片 |
| 测试项目 | 高低温老化测试、读写性能验证、数据可靠性测试 |
| 客户需求 | inTEST ATS 系列解决方案 |
|---|---|
| 温度范围覆盖 -40℃ 至 +125℃（车规级） | ATS 系列提供 -80℃ 至 +225℃ 宽温区，完全覆盖 |
| 快速温变以提升测试效率 | 10 秒完成 -55°C ↔ +125°C 温变 |
| 精准控温保证测试数据可靠性 | ±1.0°C 温度精度，±0.1°C 分辨率 |
| 与 NAND 闪存测试系统无缝集成 | Ethernet、IEEE-488、RS232 多种通讯接口 |
| 远程获取温度并更改设定值 | 支持远程通讯与控制 |
| 无需液氮操作 | 采用自有制冷技术，无需 LN₂ 或 LCO₂ |
| 避免低温凝露 | 干燥气流吹扫，无凝露风险 |
SD NAND 凭借微型化尺寸、宽温工作能力、高耐久性和标准 SD 协议等优势，已成为车载存储的理想选择。而要确保每一颗 SD NAND 在极端温度下的可靠性，离不开专业的高低温测试设备。
inTEST ATS 系列热流仪（ATS-545 和 ATS-710E）凭借其宽温度范围、10 秒快速温变、±1.0°C 高精度控温以及无需液氮的独特优势，配合 NAND 闪存专用测试系统，为车载用 SD NAND 提供了高效、可靠的高低温老化测试解决方案。
上海伯东作为 inTEST 高低温测试设备全国总代理，致力于为客户提供从选型、集成到售后的一站式服务，助力车载存储芯片测试迈向更高精度、更高效率。
