inTEST 热流仪芯片高低温冲击测试应用发布日期:2024-08-06

上海伯东 inTEST 热流仪 BT28 用于高速光模块测试应用


        在高速通信领域,光模块的性能确实对整个通信系统的稳定性和数据传输速率有着至关重要的影响。上海伯东作为美国inTEST热流仪的中国区总代理,提供了针对400G等高速光模块的温控测试解决方案,这对于确保光模块在不同环境条件下的性能表现至关重要。以下是上海伯东提供的inTEST BT 28温控测试设备的一些关键特性和优势:

 

inTEST BT 28温控测试设备特性: 

1. 台式小型机台:占地面积更小,重量更轻,便于在实验室或生产环境中使用。

2. 兼容性:T caps 测试罩可与常规ATS系列设备兼容,提供了更广泛的应用范围。

3. 维护成本:维护成本更低,减少了长期运营的支出。

4. 设备成本:设备成本更低,使得更多的企业能够负担得起高质量的测试设备。

5. 温度范围:温度范围从-28℃至+225℃,覆盖了广泛的测试需求。

6. 气体流量:最大气体流量可达14标准立方英尺每分钟(scfm),确保了测试的效率。

7. 用户界面:直观的彩色触摸屏,提高了操作的便捷性,并且触摸屏可拆卸,增加了灵活性。

8. 操作模式:支持手动、循环和远程操作,适应不同的测试需求和自动化测试环境。

 

 

光模块测试流程:

1. 样品准备:将400G光模块待测样品插装于400G生产测试板上。

2. 温控设置:使用inTEST BT 28设备,设置待测光模块的外壳温度为0℃、40℃和70℃。

3. 电压设置:设置待测光模块的不同工作电压。

4. 测试执行:结合其他测试设备,如接收灵敏度测试仪、光功率计等,获取光模块的各项性能指标。

5. 数据分析:对测试结果进行分析,确保光模块在不同温度和电压条件下的性能满足设计要求。

 

 

通过使用上海伯东提供的inTEST BT 28温控测试设备,可以有效地对400G光模块进行精确的温度控制和性能测试,从而确保光模块在实际应用中的可靠性和性能表现。如果您需要进一步了解产品详情或有其他技术问题,欢迎随时咨询。

 

美国 inTEST ThermoStream 系列高低温冲击热流仪, 温度冲击范围 -100 ℃ 至+ 300 ℃, 防静电设计, 不需要 LN2 或 LCO2 冷却, 温度显示精度: ±1℃, 通过 NIST 校准. 通过 ISO 9001, CE, RoHS 认证. inTEST 热流仪提供适用于 RF 射频, 微波, 电子, 功率器件, 通信芯片等温度测试, 满足芯片特性和故障分析的需求. 上海伯东是美国 inTEST 中国总代理.

 

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上海伯东是美国 inTEST 高低温冲击测试机, 德国 普发 Pfeiffer  真空设备, 美国  KRI 考夫曼离子源, 日本  NS 离子蚀刻机, 美国  HVA 真空阀门, 美国  Gel-pak 芯片包装盒,比利时原装进 口 Europlasma 等离子表面处理机 , 日本  Atonarp过程质谱仪  和  美国 Ambrell 感应加热设备 等进口知名品牌的指定代理商 .我们真诚期待与您的合作!

 

若您需要进一步的了解详细信息或讨论, 请参考以下联络方式:

 

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