inTEST 热流仪芯片高低温冲击测试应用发布日期:2025-02-21

上海伯东 inTEST 热流仪助力 AI 芯片国产化


近年来,随着人工智能技术的迅猛发展,AI芯片的需求呈现爆发式增长。尤其是在某GPU供应受限的背景下,国产AI芯片的研发和替代进程正在加速推进。作为全球领先的AI大模型公司,某领先AI大模型公司的崛起不仅推动了AI技术的普及,也为国产AI芯片的适配和优化提供了广阔的应用场景。在这一背景下,温度循环测试作为AI芯片研发和制造中的关键环节,显得尤为重要。

AI芯片温度循环测试

*图片来源:Unsplash

 

inTEST作为全球领先的热测设备专家,凭借其超过50年的技术积累,推出了ATS-545和ATS-710E系列热流仪,为AI芯片的高低温循环测试提供了精准、高效的解决方案, 在AI芯片测试中极具优势。

ATS-545 热流仪

 

AI芯片的温度循环测试需求:

AI芯片(如GPU、TPU等)因其高算力需求,常常面临复杂的热环境挑战。为了确保芯片在不同温度条件下的性能和可靠性,温度循环测试成为不可或缺的环节。通过模拟极端温度条件,温度循环测试能够提前发现并解决潜在的设计缺陷、制造问题或环境敏感性,从而确保芯片在长期使用中的稳定性和可靠性。

 

inTEST ATS系列热流仪的技术优势:

inTEST ATS系列热流仪凭借其超高速的高低温控制能力,广泛应用于各种电子元件、IC芯片和PCB电路板的高低温循环测试。以下是ATS-545和ATS-710E的主要技术特点:

 

特性

ATS-545

ATS-710E

温度范围

-80℃ 至 225℃

-80℃ 至 225℃

温变速度

10秒内完成-55℃至125℃切换

快速温变,支持极端温度条件下的精准控制

控制精度

±0.5℃

±0.5℃

局部温控技术

气流聚焦技术,精准定位单个IC模块

气流聚焦技术,精准定位单个IC模块

通信接口

Ethernet, IEEE-488, RS232

Ethernet, IEEE-488, RS232

人机界面

全新的人机控制界面,操作简便

全新的人机控制界面,操作简便

适用场景

高集成度的AI芯片模组测试

极端环境下的AI芯片稳定性测试

 

ATS-710 热流仪

 

1. 支持各种高低温可靠性验证

AI芯片在高算力需求下,常常面临复杂的热环境挑战。inTEST ATS系列热流仪能够模拟极端温度条件,进行全面的可靠性测试。例如,ATS-710E 支持-80℃至225℃的宽温度范围测试,使用自主研发的New ThermoStream® OCM系统,能够精准定位单个IC模块的温度冲击响应,确保AI芯片在极端环境下的稳定性。

 

2. 超强的局部精准温控技术

传统的高低温箱难以针对PCB板上的特定芯片进行独立测试,而inTEST ATS系列热流仪通过气流聚焦技术,仅对目标芯片施加温度冲击,避免周边元器件受到干扰。这一技术尤其适合高集成度的AI芯片模组测试,能够实时监测芯片在高温、低温及温度循环中的电性能参数,为故障分析提供数据支持。

 

3. 测试效率极高

inTEST ATS-545热流仪具备快速温变能力,能够在10秒内完成-55℃至125℃的温度切换,大幅缩短测试周期。生成的海量温度性能数据为AI芯片的工艺改进提供了有力依据。例如,通过分析不同温度下的芯片失效模式,可以优化封装材料或散热设计,从而提升芯片的整体性能。

 

inTEST ATS系列热流仪已成功应用于多家AI芯片制造企业的研发和生产过程中。通过与某些AI技术企业的合作,inTEST热流仪在AI芯片的温度循环测试中展现了卓越的性能和可靠性,助力国产AI芯片的快速迭代和优化。

 

随着AI技术的快速发展,AI芯片的需求将持续增长,而温度循环测试作为确保芯片性能和可靠性的关键环节,其重要性不言而喻。inTEST ATS-545ATS-710E热流仪凭借其精准的温度控制、高效的测试能力和广泛的应用场景,已成为AI芯片测试领域的首选设备。未来,inTEST将继续与国内AI芯片企业紧密合作,共同推动国产AI芯片的技术进步和产业化进程。

 

上海伯东是美国 inTEST 高低温冲击测试机, 德国 普发 Pfeiffer  真空设备, 美国  KRI 考夫曼离子源, 日本  NS 离子蚀刻机, 美国  HVA 真空阀门, 美国  Gel-pak 芯片包装盒,比利时原装进 口 Europlasma 等离子表面处理机 , 日本  Atonarp过程质谱仪  和  美国 Ambrell 感应加热设备 等进口知名品牌的指定代理商 .我们真诚期待与您的合作!

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