inTEST 热流仪芯片高低温冲击测试应用发布日期:2025-02-17

上海伯东 inTEST ATS-545 热流仪用于5G模块高低温测试


随着5G技术的快速发展,5G模块作为支持高速、低延迟无线通信的核心组件,广泛应用于智能手机、物联网、工业互联网、自动驾驶和远程医疗等领域。为了确保5G模块在各种极端环境下的稳定性和可靠性,高低温测试成为了不可或缺的环节。上海伯东代理美国 inTEST ATS-545 热流仪作为一款高性能的高低温测试设备,能够为5G模块提供精准、快速的高低温循环测试,确保其在极端温度条件下的性能表现。

5G模块高低温测试

 

5G模块的高低温测试需求:

5G模块在出厂前需要进行严格的高低温冲击测试,以确保其在各种环境条件下的可靠性。测试内容包括:

1. 电性能测试

评估5G模块在不同温度条件下的电气性能,确保其在高低温环境下的稳定工作。

2. 失效性测试

通过高低温循环测试,验证5G模块在极端温度变化下的失效模式,确保其在实际应用中的可靠性。

3. 可靠性测试

模拟5G模块在运输和存储过程中可能遇到的温度冲击,确保其焊点、电路和材料符合寿命老化标准。

4. 温度持续性和冲击性测试

验证5G模块在不同温度条件下的稳定性,确保其在运输或存储中仍能保持良好的性能。

 

inTEST ATS-545 热流仪的技术优势:

inTEST ATS-545 热流仪专为高精度、高效率的高低温测试设计,尤其适用于5G模块的高低温测试。以下是其主要技术优势:

inTEST ATS-545

参数

ATS-545

温度范围

-75°C 至 +225°C

变温速率

-55°C 至 +125°C <10 秒

气流输出

4 至 18 SCFM (1.9-8.5 L/s)

温度精度

±1.0°C

温度显示分辨率

±0.1°C

温度传感器

T型或K型热电偶

电源配置

200-250 VAC, 50/60Hz

尺寸

61cm(宽)× 108cm(高)× 72.4cm(深)

 

ATS-545 在5G模块高低温测试中的应用

1. 高低温循环测试

ATS-545 能够快速实现 -55°C 到 +125°C 的温度循环测试,满足5G模块在极端温度条件下的性能验证需求。

2. 电性能测试

ATS-545 可以模拟5G模块在不同温度条件下的工作状态,确保其在高低温环境下的电气性能稳定。

3. 失效性测试

通过高低温冲击测试,ATS-545 能够验证5G模块在极端温度变化下的失效模式,确保其在实际应用中的可靠性。

4. 可靠性测试

ATS-545 可以模拟5G模块在运输和存储过程中可能遇到的温度冲击,确保其焊点、电路和材料符合寿命老化标准。

 

inTEST ATS-545 热流仪凭借其宽广的温度范围、快速的变温速率、精准的温度控制以及灵活的气流输出,成为了5G模块高低温测试的理想选择。无论是高低温循环测试、电性能测试还是可靠性测试,ATS-545 都能提供高效、可靠的解决方案。

上海伯东作为 inTEST 品牌的全国总代理,致力于为客户提供最优质的产品和服务。我们相信,inTEST ATS-545 热流仪将成为您在5G模块测试领域的理想选择,助力您在激烈的市场竞争中脱颖而出。

 

上海伯东是美国 inTEST 高低温冲击测试机, 德国 普发 Pfeiffer  真空设备, 美国  KRI 考夫曼离子源, 日本  NS 离子蚀刻机, 美国  HVA 真空阀门, 美国  Gel-pak 芯片包装盒,比利时原装进 口 Europlasma 等离子表面处理机 , 日本  Atonarp过程质谱仪  和  美国 Ambrell 感应加热设备 等进口知名品牌的指定代理商 .我们真诚期待与您的合作!

 

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