随着化合物半导体、SAW器件、薄膜磁头、MEMS及高端传感器等领域对微纳加工精度的要求不断提升,干法刻蚀尤其是离子束刻蚀(IBE)因具备低损伤、高方向性、材料适应性强等优势,成为关键工艺环节的首选技术。
上海伯东 Hakuto NS-10 IBE 金属干法刻蚀机,采用直流考夫曼离子源,具备高均匀性、高刻蚀速率、高精度线条控制等优异性能,已成功应用于国内某国家级尖端微纳制造研究机构,用于金属薄膜(Au、Pt 等)的微结构刻蚀工艺。
二、用户单位简介
该知名空天信息研究院长期从事航空航天、电子对抗、新型传感器等领域的核心器件研发,具备完整的微纳加工工艺线,对金属刻蚀的均匀性、精度、温度控制及工艺可重复性要求极高。

三、设备交付与应用目标
该知名空天信息研究院采购上海伯东提供的 Hakuto NS-10 IBE,主要用于:
1. 4英寸晶圆上Au、Pt等贵金属薄膜的图形化刻蚀;
2. 兼容2英寸、3英寸小尺寸样片;
3. 配合其自主光刻工艺,实现0.5μm以下金属线条加工;
4. 验证离子束入射角度对刻蚀形貌的影响。
四、设备关键技术参数

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参数项 |
技术指标 |
是否响应 |
|---|---|---|
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离子源类型 |
直流考夫曼源,栅网直径 φ100mm |
响应 |
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工艺气体 |
Ar、N₂、O₂ |
响应 |
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离子束电压 |
200V~1000V(典型200~600V) |
响应 |
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离子束电流 |
100mA~200mA(典型100mA,最大200mA) |
响应 |
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腔体尺寸 |
φ406mm × 400mm(不锈钢304,观察窗) |
响应 |
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真空系统 |
干泵 + Pfeiffer Hipace 700 分子泵(抽速 685 L/s N₂) |
响应 |
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极限真空 / 工作压力 |
8×10⁻⁵ Pa / 3×10⁻² Pa |
响应 |
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抽速 |
<45min 达 1×10⁻³ Pa,<24h 达 8×10⁻⁵ Pa |
响应 |
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样品台温控(Chiller) |
-20℃ ~ 30℃,精度 ±2℃ |
响应 |
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样品台旋转角度 |
0° ~ ±90°(手动) |
响应 |
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刻蚀均匀性(4英寸晶圆内) |
≤ ±5%(定义:(Max-Min)/(Min+Max)×100%) |
响应 |
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Pt、Au 刻蚀速率 |
≥ 50 nm/min |
响应 |
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线条刻蚀精度 |
≤ 0.5 μm |
响应 |
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自动控制系统 |
PLC + 触摸屏,具备工艺锁定、数据存储、报警停机等功能 |
响应 |
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终点检测接口(EPD) |
预留法兰接口,控制系统兼容扩展 |
响应 |
五、实际应用结果
在4英寸Si晶圆上,采用Ar气、离子束电压600V、电流100mA、入射角0°、刻蚀时间10分钟条件下,测试Au薄膜(厚度约200nm)刻蚀均匀性:
1. 均匀性(90mm直径内):≤ ±4.8%
2. 满足用户 ≤±5% 的工艺要求

5.2 刻蚀速率验证
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材料 |
刻蚀速率(nm/min) |
是否达标 |
备注 |
|---|---|---|---|
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Pt |
53.2 |
≥50 |
稳定可重复 |
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Au |
51.8 |
≥50 |
无明显再沉积或损伤 |
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Si |
22.0 |
参考 |
用户未重点要求,但性能良好 |
5.3 线条刻蚀精度
用户采用光刻胶掩膜(厚度约1.5μm),刻蚀后SEM观测:
1. 最小线宽:< 0.45 μm
2. 刻蚀侧壁角度:约75°~80°
3. 无明显底切或侧蚀
5.4 温度控制与入射角度验证
1. Chiller设定为20℃时,刻蚀10分钟后晶圆表面温度 ≤60℃(热标签实测),远低于用户≤100℃的要求。
2. 入射角调节至 ±60° 时,刻蚀形貌明显倾斜,满足用户对斜面金属结构的加工需求。
六、优势总结
设备综合优势:
1. 材料适应性强:适用于Au、Pt、Ni、合金、磁性材料等;
2. 刻蚀质量高:低损伤、高方向性、均匀性好;
3. 工艺灵活:角度可调、温控精确、兼容多尺寸晶圆;
4. 系统成熟:PLC全自动控制,具备工业级可靠性;
5. 扩展性好:预留终点检测接口,便于工艺升级。
七、结论
上海伯东提供的 Hakuto NS-10 IBE 金属干法刻蚀机,已在国内高端微纳制造机构中成功落地,满足Au、Pt等金属材料的高精度、高效率刻蚀需求。该设备在均匀性、速率、精度、温控及自动化控制等方面均达到或优于招标及规格要求,是化合物半导体、传感器、SAW器件、MEMS等领域理想的金属干法刻蚀平台。
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