车载 CMOS 图像传感器芯片（CIS）是智能汽车视觉感知核心器件，应用于 ADAS 辅助驾驶、360° 环视、DMS 驾驶员监控等系统，产品必须通过 AEC‑Q100 车规可靠性认证，高低温循环、极限温度应力是关键测试项目。实车环境温度跨度大，芯片需要耐受‑40℃~+85℃甚至更宽温度区间，温度异常会造成成像噪声、画面失真，直接影响行车安全。
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应用场景
•舱外：前视感知、环视影像、后视、电子后视镜 CMOS 图像传感器芯片
•舱内：DMS 驾驶员监控、OMS 乘员监控 CMOS 图像传感器芯片
a. 测试工况：高低温稳态测试、温度冲击、温度循环可靠性验证，用于研发摸底与 AEC‑Q100 认证测试。
b. 测试设备：inTEST ATS 系列热流仪
上海伯东为美国 inTEST 热流仪全国总代理，ATS 系列热流仪对芯片本体直接局部控温，无需大型温箱，适配探针台、芯片测试座，适配半导体自动化测试平台。
核心工况能力
1. 宽温度范围：‑75℃ ~ +225℃，主流型号‑55℃~+125℃，完整覆盖车规芯片工作、存储、温度冲击测试条件
2. 极速变温：‑55℃与 + 125℃快速切换，缩短温度循环测试周期
3. 高精度控温：控温精度 ±1℃，保障暗电流、动态范围等光电参数测试数据准确
4. 多通讯接口，支持系统集成，实现自动化批量高低温测试
常用型号：ATS‑710E、ATS‑545，广泛用于车载 CIS 芯片实验室研发及认证测试。
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产品应用优势
1. 完全匹配 AEC‑Q100 车规认证测试工况，满足车载 CMOS 图像传感器芯片可靠性验证需求
2. 芯片局部直控温，升降温响应快，对比传统温箱大幅提升测试效率
3. 一台设备兼容舱内、舱内多类车规 CIS 芯片测试需求
4. 支持对接现有半导体测试系统，实现无人值守温度循环测试
5. 上海伯东提供设备供货、安装调试、现场培训及全套售后技术支持
应用小结
inTEST ATS 系列热流仪可高效模拟车载真实极端环境，完成 CMOS 图像传感器芯片高低温应力考核，提前识别温度带来的成像失效风险，保障车规芯片产品可靠性。
上海伯东是日本 NS 离子蚀刻机, 美国 KRI 考夫曼离子源, 德国 ph-instruments 磁悬浮转子真空计, 德国 普发 Pfeiffer 真空设备, 美国 inTEST 高低温冲击测试机, 美国 HVA 真空阀门, 美国 Gel-pak 芯片包装盒,比利时原装进 口 Europlasma 等离子表面处理机 , 和 美国 Ambrell 感应加热设备 等进口知名品牌的指定代理商 .我们真诚期待与您的合作!
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